X射線鍍層測厚儀XDLM231/237

                    型號

項目

XDLM-231

XDLM-237

通用規格

設計用途

能量色散X射線熒光光譜儀 (EDXRF) ，測量薄鍍層和微小結構樣品，分析合金組分

元素范圍

從元素氯 (17) 到鈾 (92)，最多可以同時測定24種元素

工作臺

平臺

固定式樣品平臺

馬達驅動可編程X/Y平臺

可用樣品平臺

463mm x 500mm

300mm x 350mm

X/Y平臺移動距離

/

255mm x 235mm

X/Y平臺移動速度

/

≤80mm/s

X/Y平臺移動重復精度

/

≤0.01mm（單向）

樣品重量

20kg

5kg，降低精度可達20kg

樣品高度

140mm

電氣參數

電原要求

AC 220V 50HZ

功耗

120W（測量頭，不包括計算機）

保護等級

IP40

環境要求

使用溫度

10℃-40℃

存儲或運輸時溫度

0℃-50℃

空氣相對濕度

≤95%，不結露

計算單元

計算機

Windows®-PC

軟件

標準：Fischer WinFTM® BASIC

可選：Fischer WinFTM® PDM®，SUPER

尺寸規格

外部尺寸

570mm×760mm×650mm

內部測量艙尺寸

460mm x 495mm x146mm

重量

100kg

120kg